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In der industriellen Halbleiterinspektion, der metallurgischen Fraktografie und der mikroelektronischen Qualitätssicherung ist die verzerrungsfreie Vergrößerung dreidimensionaler Topografien entscheidend. Das KERN OIV 656 Videomikroskop eliminiert die physikalischen Limitierungen klassischer binokularer Strahlengänge durch eine vollständig digitalisierte, optoelektronische Bildwandlung. Das von der Probenoberfläche reflektierte Photonenspektrum wird durch das Objektiv direkt auf einen hochauflösenden 2-Megapixel-CMOS-Sensor projiziert. Dieser Halbleiter wandelt die eintreffende Lichtenergie über den inneren photoelektrischen Effekt in analoge Spannungssignale um, welche unmittelbar durch einen integrierten A/D-Wandler in ein digitales High-Definition-Bildsignal transformiert werden. Diese Bauweise eliminiert die physiologische Ermüdung (Asthenopie) durch starre Okulareinflüsse und ermöglicht die sofortige, kollaborative Betrachtung komplexer Mikrostrukturen am Monitor.
Die mikroskopische Analyse von Leiterplatten oder komplex gefrästen Bauteilen erfordert normalerweise ständige manuelle Anpassungen der Z-Achse an wechselnde topografische Höhen. Das OIV 656 durchbricht diesen Workflow-Flaschenhals durch ein hochkomplexes, prozessorgesteuertes Autofokus-System. Die interne digitale Signalverarbeitung (DSP) analysiert den mikroskopischen Kantenkontrast des Bildes in Echtzeit. Bei Abweichungen steuert der Mikrocontroller die optische Fokusebene sofort elektromechanisch nach. Dieser dynamische Kontrast-Autofokus kompensiert topografische Höhenunterschiede der Probe in Sekundenbruchteilen und hält die Schärfentiefe absolut konstant, was die reproduzierbare Fehlererkennung bei extrem hohen Durchsatzraten massiv beschleunigt.
Die Detektion von Mikrorissen, Lötstellenfehlern oder Oberflächenanomalien ist eine direkte Funktion des Lichteinfallswinkels und der Photonenstreuung. Das System ist mit einer stufenlos dimmbaren, zirkulären LED-Ringbeleuchtung (3 Watt) ausgestattet. Diese emittiert ein definiertes Lichtspektrum und sorgt für eine achsensymmetrische, schattenfreie Ausleuchtung der Probengeometrie. Die optische Vergrößerung wird über ein präzises, stufenloses Zoomobjektiv realisiert (Vergrößerungsverhältnis 0,7x – 4,5x). Durch die kontinuierliche axiale Verschiebung der hochbrechenden Linsenelemente ändert sich die Brennweite, ohne dass chromatische Aberrationen oder sphärische Verzerrungen die Kantenauflösung des digitalen Bildes beeinträchtigen.
Für zertifizierte Labore, die lückenlose QM-Dokumentationen durchführen müssen, bietet das OIV 656 die direkte Sicherung der digitalen Rohdaten. Das Videomikroskop verfügt über einen autarken SD-Karten-Steckplatz zur direkten Speicherung von hochauflösendem Bild- und Videomaterial ohne angeschlossenen Rechner. Der unkomprimierte digitale Videostream wird parallel via HDMI latenzfrei an externe Referenzmonitore übertragen oder kann über die USB-Schnittstelle zur softwarebasierten, pixelgenauen Vermessung (Metrologie) an entsprechende Laborauswertungsrechner gesendet werden.
Das OIV 656 ist für die direkte visuelle Analyse am Bildschirm konzipiert und besitzt keine eigenen Okulare. Um das hochauflösende HDMI-Signal optimal darzustellen, empfehlen wir die Nutzung eines kalibrierten Referenzmonitors. Sollte das mitgelieferte Stativ für die Inspektion von extrem großformatigen Leiterplatten oder Bauteilen (wie Motorblöcken) räumlich nicht ausreichen, lässt sich das Mikroskop mit massiven Gelenkarm- oder Schwenkstativen aus dem KERN-Zubehör kombinieren. Wenden Sie sich für die optische Konfiguration und die Einbindung in Ihr Qualitätsmanagement-System an unseren spezialisierten Beschaffungsservice.
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