In der industriellen Werkstoffpr\u00fcfung, der Halbleiterinspektion und der Gussanalyse stellen schwere, gro\u00dfvolumige oder asymmetrische Proben herk\u00f6mmliche aufrechte Mikroskopsysteme vor unl\u00f6sbare mechanische Probleme. Das KERN OLM 170 eliminiert diese limitierenden r\u00e4umlichen Beschr\u00e4nkungen durch seine inverse (umgekehrte) Systemarchitektur. Die planachromatischen Objektive und die Fokussiermechanik sind physikalisch unterhalb des gro\u00df dimensionierten Kreuztisches positioniert. Dies erlaubt die direkte Auflage von massiven Motorbl\u00f6cken, dicken Stahlbrammen oder schweren Leiterplatten ohne jegliche H\u00f6henlimitierung. Verfahrenstechnisch reduziert dies den Pr\u00e4parationsaufwand enorm: Das Werkst\u00fcck muss lediglich an der zu mikroskopierenden Unterseite absolut plan geschliffen und poliert werden. Ein aufwendiges planparalleles Ausrichten des gesamten Probenk\u00f6rpers zur optischen Achse entf\u00e4llt physikalisch vollst\u00e4ndig.<\/p>\n
Im absoluten Gegensatz zu Systemen mit thermischen Halogenstrahlern basiert das OLM 170 auf modernster Halbleiterphysik. Das System ist mit einer leistungsstarken, koaxialen 5-Watt-LED-Auflichtbeleuchtung ausgestattet. Die Lumineszenzdiode emittiert ein hochintensives, absolut flimmerfreies und farbneutrales Photonenspektrum mit extrem geringem W\u00e4rmeanteil. Diese kalte Lichtquelle verhindert die thermische Ausdehnung der mechanischen Mikroskopbauteile (thermospatialer Drift) und sch\u00fctzt w\u00e4rmeempfindliche Halbleiterwafer vor thermomechanischem Stress. Das koaxiale Auflicht wird \u00fcber einen teildurchl\u00e4ssigen Strahlenteiler exakt in die optische Achse eingespiegelt, durchl\u00e4uft das Objektiv als Kondensor und wird von der opaken Metalloberfl\u00e4che direkt in das Tubussystem reflektiert.<\/p>\n
Das metrologische Fundament des OLM 170 bildet sein unendlich korrigiertes Linsensystem (Infinity Optics). Die von der Festk\u00f6rperprobe reflektierten Lichtwellen verlassen das Objektiv als parallele Strahlenb\u00fcndel. Erst eine im trinokularen Mikroskopkopf verbaute Tubuslinse fokussiert diese Photonen zu einem scharfen, reellen Zwischenbild. Der physikalische Raum der parallelen Strahlung zwischen Objektiv und Tubuslinse erm\u00f6glicht die verzerrungs- und aberrationsfreie Integration von optischen St\u00f6rk\u00f6rpern, wie der mitgelieferten Polarisations- und Analysatoreinheit. Das System bleibt dabei l\u00fcckenlos frei von induzierten chromatischen Aberrationen oder Brennweitenverschiebungen.<\/p>\n
Bei der Auflichtbetrachtung von hochglanzpolierten Metallschliffen f\u00fchrt gerichtetes Licht unweigerlich zu massiven Reflexionen (Glare). Das OLM 170 durchbricht dieses Ph\u00e4nomen mit seinem integrierten Polarisationssystem. Der Polarisator zwingt die Lichtwellen in eine lineare Schwingungsebene, w\u00e4hrend der gekreuzte Analysator diffuse Glanzreflexe physikalisch blockiert. Dies maximiert den Phasenkontrast und macht Spannungsdoppelbrechungen, Mikrorisse und heterogene Legierungsgrenzen sichtbar. Um diese Strukturen metrologisch zu dokumentieren, verf\u00fcgt das Mikroskop \u00fcber einen trinokularen Tubus mit einem r\u00fcckseitig vormontierten C-Mount-Adapter. Dieser erm\u00f6glicht die direkte, fluchtende Adaption einer digitalen Mikroskopkamera, w\u00e4hrend ein interner Lichtteiler (20:80) die zeitgleiche Inspektion am Okular erlaubt.<\/p>\n
Der trinokulare Strahlengang mit dem bereits vormontierten C-Mount-Adapter macht das OLM 170 zur idealen Basis f\u00fcr die digitale Metrologie. Um L\u00e4ngen, Fl\u00e4chen oder Winkel in Ihren Schlifffotografien pixelgenau zu vermessen, empfehlen wir die Kombination mit einer kalibrierten digitalen Mikroskopkamera (z. B. der KERN ODC-Serie) und einem passenden Objektmikrometer. Wenden Sie sich f\u00fcr die optoelektronische Konfiguration Ihres Messplatzes jederzeit an unseren Beschaffungsservice<\/a>.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"\n