In der werkstoffkundlichen Fraktografie, der metallurgischen Qualit\u00e4tskontrolle und der Untersuchung von opaken (lichtundurchl\u00e4ssigen) Halbleiterstrukturen versagen klassische Durchlichtmikroskope aufgrund der physikalischen Totalabsorption der Photonen im Festk\u00f6rper. Das KERN OKM 173 ist als hochpr\u00e4zises metallurgisches Auflichtmikroskop (Epi-Illumination) konstruiert. Bei diesem komplexen optischen Aufbau fungiert das Objektiv gleichzeitig als Kondensor. Die integrierte 30-Watt-Halogen-Lichtquelle emittiert ein kontinuierliches, breitbandiges Photonenspektrum. Dieses Licht wird \u00fcber einen teildurchl\u00e4ssigen Strahlenteiler im Mikroskopstativ exakt in die optische Achse eingespiegelt, durch das Objektiv auf die Probe fokussiert und von der metallischen Festk\u00f6rperoberfl\u00e4che reflektiert. Das reflektierte Licht durchl\u00e4uft das Objektiv erneut und erzeugt im trinokularen Tubus ein absolut kontrastreiches, artefaktfreies Bild der mikroskopischen Kornstrukturen, Lunker oder Mikrorisse.<\/p>\n
Das metrologische Herzst\u00fcck des OKM 173 ist sein unendlich korrigiertes optisches System (Infinity Optics). Im Gegensatz zu endlichen optischen Systemen mit starrer Tubusl\u00e4nge (z. B. 160 mm) treten die Lichtstrahlen bei der Unendlich-Optik als parallele Strahlenb\u00fcndel aus dem Objektiv aus. Erst eine speziell berechnete Tubuslinse im Mikroskopkopf fokussiert diese parallelen Photonen zu einem reellen Zwischenbild. Dieser physikalische Raum der parallelen Strahlen zwischen Objektiv und Tubuslinse ist von essenzieller Bedeutung: Er erlaubt das Einbringen zus\u00e4tzlicher optischer Komponenten \u2013 wie Polarisationsfilter, Analysatoren oder DIC-Prismen \u2013 ohne dass es zu einer Verschiebung der optischen Brennweite, zu sph\u00e4rischen Aberrationen (Abbildungsfehlern) oder zu mikroskopischen Geisterbildern kommt.<\/p>\n
Gerade bei spiegelnden metallischen Oberfl\u00e4chen oder polierten Schliffbildern f\u00fchrt unpolarisiertes Halogenlicht oft zu einer massiven \u00dcberstrahlung, die feinste Phasengrenzen im Metallgitter maskiert. Das OKM 173 ist daher standardm\u00e4\u00dfig mit einer leistungsstarken Polarisations- und Analysatoreinheit ausgestattet. Der Polarisator zwingt die transversalen elektromagnetischen Lichtwellen in eine definierte Schwingungsebene. Die Reflexion an der anisotropen Kristallstruktur der Metallprobe ver\u00e4ndert den Polarisationszustand des Lichts spezifisch. Der nachgeschaltete Analysator blockiert st\u00f6rende Glanzreflexe physikalisch aus und macht optische Spannungsdoppelbrechungen, Korngrenzen und heterogene Legierungsphasen mit maximalem mikroskopischem Kontrast sichtbar.<\/p>\n
Um die f\u00fcr die Metallurgie typischen, absolut planen Schliffoberfl\u00e4chen geometrisch fehlerfrei abzubilden, ist das System mit planachromatischen Objektiven ausgestattet. Diese hochkomplexen Linsensysteme korrigieren die chromatische Aberration f\u00fcr zwei Spektralfarben und ebnen das Bildfeld physikalisch so, dass sowohl das Zentrum als auch die extremen Randbereiche der Festk\u00f6rperprobe gleichzeitig absolut scharf fokussiert sind. Der trinokulare Siedentopf-Tubus erm\u00f6glicht zudem die zeitgleiche, binokulare visuelle Inspektion durch den Anwender und die verlustfreie Auskopplung des Photonenstroms an eine digitale Mikroskopkamera (C-Mount). Dies ist f\u00fcr die l\u00fcckenlose digitale Dokumentation und softwarebasierte Metrologie in zertifizierten Laboren zwingend erforderlich.<\/p>\n
Der trinokulare Strahlengang des OKM 173 ist mechanisch und optisch f\u00fcr die Integration einer hochaufl\u00f6senden digitalen Mikroskopkamera (z. B. KERN ODC-Serie mit CMOS-Sensor) vorbereitet. Um metrologische L\u00e4ngen- oder Winkelmessungen an den Metallstrukturen softwareseitig durchzuf\u00fchren, ist eine solche Kamera in Verbindung mit einem Objektmikrometer zur Kalibrierung zwingend erforderlich. F\u00fcr extrem hochvergr\u00f6\u00dfernde Analysen l\u00e4sst sich das System zudem mit einem planachromatischen 100x-LWD-Objektiv aufr\u00fcsten. Wenden Sie sich f\u00fcr die optoelektronische Konfiguration und die Einbindung in Ihr QM-System jederzeit an unseren Beschaffungsservice<\/a>.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"\n