In der industriellen Halbleiterinspektion, der metallurgischen Fraktografie und der mikroelektronischen Qualit\u00e4tssicherung ist die verzerrungsfreie Vergr\u00f6\u00dferung dreidimensionaler Topografien entscheidend. Das KERN OIV 656 Videomikroskop eliminiert die physikalischen Limitierungen klassischer binokularer Strahleng\u00e4nge durch eine vollst\u00e4ndig digitalisierte, optoelektronische Bildwandlung. Das von der Probenoberfl\u00e4che reflektierte Photonenspektrum wird durch das Objektiv direkt auf einen hochaufl\u00f6senden 2-Megapixel-CMOS-Sensor projiziert. Dieser Halbleiter wandelt die eintreffende Lichtenergie \u00fcber den inneren photoelektrischen Effekt in analoge Spannungssignale um, welche unmittelbar durch einen integrierten A\/D-Wandler in ein digitales High-Definition-Bildsignal transformiert werden. Diese Bauweise eliminiert die physiologische Erm\u00fcdung (Asthenopie) durch starre Okulareinfl\u00fcsse und erm\u00f6glicht die sofortige, kollaborative Betrachtung komplexer Mikrostrukturen am Monitor.<\/p>\n
Die mikroskopische Analyse von Leiterplatten oder komplex gefr\u00e4sten Bauteilen erfordert normalerweise st\u00e4ndige manuelle Anpassungen der Z-Achse an wechselnde topografische H\u00f6hen. Das OIV 656 durchbricht diesen Workflow-Flaschenhals durch ein hochkomplexes, prozessorgesteuertes Autofokus-System. Die interne digitale Signalverarbeitung (DSP) analysiert den mikroskopischen Kantenkontrast des Bildes in Echtzeit. Bei Abweichungen steuert der Mikrocontroller die optische Fokusebene sofort elektromechanisch nach. Dieser dynamische Kontrast-Autofokus kompensiert topografische H\u00f6henunterschiede der Probe in Sekundenbruchteilen und h\u00e4lt die Sch\u00e4rfentiefe absolut konstant, was die reproduzierbare Fehlererkennung bei extrem hohen Durchsatzraten massiv beschleunigt.<\/p>\n
Die Detektion von Mikrorissen, L\u00f6tstellenfehlern oder Oberfl\u00e4chenanomalien ist eine direkte Funktion des Lichteinfallswinkels und der Photonenstreuung. Das System ist mit einer stufenlos dimmbaren, zirkul\u00e4ren LED-Ringbeleuchtung (3 Watt) ausgestattet. Diese emittiert ein definiertes Lichtspektrum und sorgt f\u00fcr eine achsensymmetrische, schattenfreie Ausleuchtung der Probengeometrie. Die optische Vergr\u00f6\u00dferung wird \u00fcber ein pr\u00e4zises, stufenloses Zoomobjektiv realisiert (Vergr\u00f6\u00dferungsverh\u00e4ltnis 0,7x \u2013 4,5x). Durch die kontinuierliche axiale Verschiebung der hochbrechenden Linsenelemente \u00e4ndert sich die Brennweite, ohne dass chromatische Aberrationen oder sph\u00e4rische Verzerrungen die Kantenaufl\u00f6sung des digitalen Bildes beeintr\u00e4chtigen.<\/p>\n
F\u00fcr zertifizierte Labore, die l\u00fcckenlose QM-Dokumentationen durchf\u00fchren m\u00fcssen, bietet das OIV 656 die direkte Sicherung der digitalen Rohdaten. Das Videomikroskop verf\u00fcgt \u00fcber einen autarken SD-Karten-Steckplatz zur direkten Speicherung von hochaufl\u00f6sendem Bild- und Videomaterial ohne angeschlossenen Rechner. Der unkomprimierte digitale Videostream wird parallel via HDMI latenzfrei an externe Referenzmonitore \u00fcbertragen oder kann \u00fcber die USB-Schnittstelle zur softwarebasierten, pixelgenauen Vermessung (Metrologie) an entsprechende Laborauswertungsrechner gesendet werden.<\/p>\n
Das OIV 656 ist f\u00fcr die direkte visuelle Analyse am Bildschirm konzipiert und besitzt keine eigenen Okulare. Um das hochaufl\u00f6sende HDMI-Signal optimal darzustellen, empfehlen wir die Nutzung eines kalibrierten Referenzmonitors. Sollte das mitgelieferte Stativ f\u00fcr die Inspektion von extrem gro\u00dfformatigen Leiterplatten oder Bauteilen (wie Motorbl\u00f6cken) r\u00e4umlich nicht ausreichen, l\u00e4sst sich das Mikroskop mit massiven Gelenkarm- oder Schwenkstativen aus dem KERN-Zubeh\u00f6r kombinieren. Wenden Sie sich f\u00fcr die optische Konfiguration und die Einbindung in Ihr Qualit\u00e4tsmanagement-System an unseren spezialisierten Beschaffungsservice<\/a>.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"\n